7.1 General requirements specific to EL BE and LGD in-default estimation

Les établissements ayant obtenu l’autorisation d’utiliser leurs propres estimations de LGD conformément à l’article 143, paragraphe 2, du règlement (UE) n° 575/2013 devraient attribuer une estimation EL BE et une estimation de LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut à chaque exposition sur laquelle il y a eu défaut dans le champ d’application du système de notation sous réserve d’une telle autorisation.

Les établissements devraient estimer les EL BE et les LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut pour chaque échelon de la facilité de crédit de l’échelle distincte de notation des facilités de crédit ou pour chaque catégorie utilisée dans le système de notation.

Aux fins de l’EL BE et de l’estimation des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut, et sauf indication contraire dans le présent chapitre, les établissements devraient utiliser les mêmes méthodes d’estimation que celles utilisées pour estimer les LGD pour les expositions sur lesquelles il n’y a pas eu défaut, comme prévu au chapitre 6.

Les établissements devraient tenir compte de toutes les informations pertinentes après matérialisation du défaut dans leurs EL BE et leurs estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut en temps utile, notamment lorsque les événements de la procédure de recouvrement infirment la validité des attentes de recouvrement sous-tendant les estimations les plus récentes.

Les établissements devraient évaluer et justifier dûment les cas où les estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut peu après la date du défaut s’écartent systématiquement des estimations des LGD immédiatement avant la date de défaut au niveau de l’échelon ou de la catégorie de facilité de crédit, lorsque ces écarts n’émanent pas de l’utilisation de facteurs de risque applicables uniquement à partir de la date de défaut.

Les établissements devraient effectuer des contrôles ex-post et des évaluations comparatives de leurs EL BE et estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut conformément à l’article 185, points b) et c), respectivement, du règlement (UE) n° 575/2013. 7.1.2 Dates de référence

Aux fins des EL BE et des estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut, les établissements devraient fixer les dates de référence à utiliser pour regroupes les expositions sur lesquelles il y a eu défaut conformément aux modèles de recouvrement observés. Ces dates de référence devraient être utilisées dans les EL BE et les estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut à la place de la date de défaut. Afin de fixer les dates de référence, les établissements devraient utiliser uniquement des informations sur les procédures de recouvrement clôturées en tenant compte des coûts et des recouvrements uniquement s’ils ont été observés jusqu’à la date de l’estimation.

Chacune des dates de référence visées au point 171 pourrait être l’une quelconque des dates suivantes:

• (a) un nombre spécifique de jours après la date de défaut; cette option serait appropriée notamment lorsque l’estimation concerne un portefeuille d’expositions présentant un modèle de recouvrement stable dans le temps;
• (b) une date pertinente associée à un événement particulier, à laquelle des discontinuités significatives sont observées dans le profil de recouvrement; cette option serait appropriée notamment lorsque l’estimation concerne un portefeuille d’expositions soumises à des modifications significatives des modèles de recouvrements associées à certains événements particuliers, par exemple à la date de réalisation de la sûreté;
• (c) toute combinaison des cas visés aux points a) et b) ci-dessus rendant mieux compte des modèles de recouvrement; cette option serait appropriée notamment lorsque l’estimation concerne un portefeuille d’expositions présentant un modèle de recouvrement stable dans le temps mais pour lequel des discontinuités sont observées dans ces modèles de recouvrement autour de certains événements particuliers, par exemple au moment du recouvrement, et lorsque les dates de référence suivant ces événements sont définies comme un nombre spécifique de jours après l’événement de recouvrement plutôt qu’après la date de défaut;
• (d) le cas échéant, la date de référence peut avoir une valeur entre zéro et le nombre de jours jusqu’à la fin de la période maximale de la procédure de recouvrement fixée par l’établissement pour le type d’expositions concernées.

Aux fins des EL BE et des estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut, les établissements devraient utiliser les mêmes expositions sur lesquelles il y a eu défaut dans l’EDR à toutes les dates de référence pertinentes prises en compte dans le modèle.

Les établissements devraient assurer un suivi régulier des modifications potentielles des modèles de recouvrement et des politiques de recouvrement pertinentes susceptibles d’affecter les EL BE et les estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut à chaque date de référence. 7.1.3 Exigences en matière de données pour les EL BE et les estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut

Aux fins des EL BE et des estimations des LGD pour expositions sur lesquelles il y a eu défaut, les établissements devraient utiliser le même EDR visé à la section 6.1.2, complété par les informations pertinentes observées au cours de la procédure de recouvrement et à chaque date de référence, précisée conformément aux points 171 à 174 et, notamment, au moins les informations supplémentaires suivantes:

• (a) tous les facteurs pertinents susceptibles d’être utilisés pour regrouper les expositions sur lesquelles il y a eu défaut et tous les facteurs de perte pertinents, y compris ceux susceptibles de devenir pertinents après la date de défaut et à chaque date de référence;
• (b) l’encours à chaque date de référence;
• (c) les valeurs de toute sûreté associée aux obligations de crédit sur lesquelles il y a eu défaut et leurs dates d’évaluation après la date de défaut.